Сеточки EDX-XEDS TEM Window Grid

Сеточки TEM для калибровки EDX/XEDS.

Покрытие из германия (Ge) толщиной 20 нм на микропористом нитриде кремния (SiN) толщиной 20 нм;

Поры размером два микрона на сетке с шагом 1: 1.

Рама толщиной 100 микрон, подходит для держателей образцов 3 мм;

Фасовка: 5 шт.